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材料超低電阻及電阻率測(cè)試儀
簡(jiǎn)要描述:材料超低電阻及電阻率測(cè)試儀主要由主機(jī)和測(cè)試治具兩部分組成,結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)符合人體工學(xué)要求,測(cè)量電阻靈敏度達(dá)0.01μΩ,電阻率靈敏度高達(dá)0.0001μΩ·m。
更新時(shí)間:2024-07-14
產(chǎn)品型號(hào):BEST-300C
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問量:938
品牌 | 北廣精儀 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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類型 | 數(shù)字式電阻測(cè)試儀 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,農(nóng)業(yè),文體,能源,建材 |
材料超低電阻及電阻率測(cè)試儀本儀器采用四端測(cè)量方式,測(cè)試材料超低電阻、電阻率和高導(dǎo)電性能數(shù)據(jù)。該儀器采用高精度直流恒流恒壓源,高效率,穩(wěn)定度和準(zhǔn)確性高;有手動(dòng)和自動(dòng)設(shè)定模式;并根據(jù)測(cè)試產(chǎn)品特性自動(dòng)轉(zhuǎn)換測(cè)試量程,無需手動(dòng)調(diào)節(jié)和設(shè)定。4.3吋液晶屏幕顯示,自動(dòng)顯示測(cè)試測(cè)試電流、電壓、溫度、電阻率、電導(dǎo)率、電阻值、方阻等數(shù)據(jù),單位可以轉(zhuǎn)換;選配:如配備軟件可通過軟件操控儀器工作,并獲得測(cè)試數(shù)據(jù)之圖表和測(cè)試結(jié)果報(bào)表,有助于對(duì)產(chǎn)品過程質(zhì)量分析;根據(jù)產(chǎn)品形狀不同可以選配測(cè)試治具.輔助測(cè)量。
適用:電線電纜行業(yè)、導(dǎo)體及半導(dǎo)體材料行業(yè),碳素、焦化、石化、粉末冶金、高等院校、科研部門對(duì)新材料之研究,是檢驗(yàn)和分析材料樣品質(zhì)量的一種重要的工具及有效方法。
滿足標(biāo)準(zhǔn): GB/T6717、GB/T 24525-2009、YS/T63.2、 ISO 11713-2000、YS/T63.2-2005、YS/T 64-1993。GB3048.2-2007、GB/T3048.4-2007、GB/T3952-2008、GB/T3953-2009、GB/T3954-2008、GB/T3955-2009、GB/T3956-2008同時(shí)也適用于對(duì)導(dǎo)體材料電導(dǎo)率高要求之測(cè)試超低值電阻及電阻率測(cè)量.
技術(shù)參數(shù)
1、電阻率: 1×10-6~2×106Ω.cm、
電 阻:1×10-5~2×105Ω
電導(dǎo)率:5×10-6~1×108ms/cm
分辨率: 小1μΩ
測(cè)量誤差±5%
2、測(cè)量電壓量程: 2mV 20mV 200mV 2V
測(cè)量精度±(0.1%讀數(shù))
分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV
3、⑴電流輸出:直流電流 0~1000mA 連續(xù)可調(diào),由交流電源供電。
⑵量程:1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,1000mA,
⑶誤差:±0.2%讀數(shù)±2字
4. 主機(jī)外形尺寸:330mm*340mm*120mm
5、顯示方式:液晶顯示6、電源:220±10% 50HZ/60HZ
7、標(biāo)配:測(cè)試平臺(tái)一套、主機(jī)一套、電源線數(shù)據(jù)線一套。
測(cè)量范圍、分辨率(括號(hào)內(nèi)為拓展量程,可定制)
材料超低電阻及電阻率測(cè)試儀概述:本品為解決四探針法測(cè)試超低阻材料方阻及電阻率,zui小可以測(cè)試到1uΩ方阻值,是目前同行業(yè)中能測(cè)量到的zui小值,采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運(yùn)輸安全、使用方便;適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示,無需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動(dòng)選擇,儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表;
雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,它與單電測(cè)直線或方形四探針相比,大大提高度,特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。選購(gòu):本機(jī)還可以配合各類環(huán)境溫度試驗(yàn)箱體使用,通過不同的測(cè)量治具滿足不同環(huán)境溫度下測(cè)量方阻和電阻率的需求.
廣泛用于:覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護(hù)材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等
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