金屬球法電壓擊穿試驗(yàn)儀

A?在ASTM標(biāo)準(zhǔn)中，這些電極都是較常被或是被參考使用的。除了5型電極外，不建議將電極用于平面材料以外材料。ASTM使用的其他電極或是買賣雙方都認(rèn)可但本表中未列出的其他電極也適于對(duì)測定材料進(jìn)行評(píng)測。

B?電極通常采用黃銅或不銹鋼制造。應(yīng)參考控制被測材料的標(biāo)準(zhǔn)，以確定材料是否合適。

C?電極表面應(yīng)拋光并清除上次測試留下的雜物。

D?參考恰當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)，以確定所安裝上側(cè)電極的負(fù)載力。除非另有說明，否則上側(cè)電極應(yīng)重50±2g。

E?參考恰當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)，以確定適當(dāng)間距的梯度。

F?IEC出版物243-1給出了6型電極，以測定平板材料。對(duì)于電極的同心度來說，他們沒有1型和2型電極那么重要。

G?只要測試樣品圓形邊緣的內(nèi)側(cè)直徑大于15mm，也可使用其他直徑。

H?7型電極，即注G中所描述的電極，由IEC出版物243-1給出，測量時(shí)應(yīng)平行與表面。對(duì)可變低壓源的控制可以改變電源的壓力，使得合成的測試電壓流暢，均勻，沒有超量或是瞬變。在任何環(huán)境下，都不允許峰值電壓超過顯示電壓有效值的1.48倍。電機(jī)驅(qū)動(dòng)控制器更適合于進(jìn)行快速測試慢速測試在電源上安裝可以在三個(gè)周期內(nèi)運(yùn)行的切斷設(shè)備。該設(shè)備將電壓源設(shè)備與電源設(shè)備切斷，以保護(hù)電壓源不受試樣擊穿造成設(shè)備過載的影響。如果破裂后保持持續(xù)的電流，將造成測試樣品不必要的燃燒，電極的點(diǎn)蝕并污染液體環(huán)境介質(zhì)。斷路設(shè)備應(yīng)具有位于次級(jí)升壓變壓器上可以調(diào)節(jié)電流的檢測元件，以便根據(jù)測試樣的性質(zhì)進(jìn)行調(diào)整和排列，以檢測試驗(yàn)電流。設(shè)置檢測元件以應(yīng)對(duì)12.3所定義的測試樣擊穿電流。電流設(shè)置對(duì)測試結(jié)果具有重大影響。設(shè)置應(yīng)足夠高，使得短暫電壓，例如局部放電，無法通過斷路器，如果不夠高，將擊穿過度燃燒的測試樣，并造成電極的損壞。優(yōu)化的電流設(shè)置并不能適用于所有的測試樣，這有賴于材料的具體使用情況以及測試的目的，有必要以多個(gè)電流設(shè)置對(duì)所給測試樣進(jìn)行測試。電極區(qū)域?qū)﹄娏鞯脑O(shè)置選擇具有重大的影響。測試樣電流感應(yīng)元件應(yīng)位于升壓變壓器的前端。按測試樣電流校準(zhǔn)電流檢測刻度。應(yīng)小心設(shè)置電流控制響應(yīng)。如果控制設(shè)置得太高，在擊穿發(fā)生時(shí)，將不會(huì)產(chǎn)生響應(yīng)。如果設(shè)置得太低，就會(huì)對(duì)漏電電流，電容電流或局部放電電流（電暈）產(chǎn)生響應(yīng)，或在檢測元件位于前端時(shí)，對(duì)升壓變壓器的磁化電流產(chǎn)生響應(yīng)。電壓測量—備有電壓表以測定測試電壓有效值。應(yīng)采用可以讀取峰值的電壓計(jì)，將讀數(shù)除以即為有效值。電壓測量電路的總體誤差不能超過測量值的5%。另外，無論采用何種速度，電壓計(jì)響應(yīng)時(shí)間的滯后率不得超過全程的1％。通過將電壓計(jì)或潛在變壓器連接到測試樣電極上，或連接到變壓器上獨(dú)立的電壓計(jì)線圈上，以測定電壓。后一種連接方式將不會(huì)影響升壓變壓器的負(fù)載。

金屬球法電壓擊穿試驗(yàn)儀如果在絕緣油中進(jìn)行測試，應(yīng)提供適當(dāng)大小的油池。（注意—在測試電壓高于10kV時(shí)，并不推薦使用玻璃容器，因?yàn)閾舸┧尫懦鰜淼哪芰孔阋該羲槿萜鳌６饘俪乇仨氝M(jìn)行接地）。