全自動(dòng)介質(zhì)損耗測(cè)試儀開(kāi)路校正功能操作步驟

開(kāi)路校正包括采用插入計(jì)算法的全頻開(kāi)路校正和對(duì)所設(shè)定的 3 個(gè)頻率點(diǎn)進(jìn)行的單頻開(kāi)路校正。執(zhí)行下列操作步驟利用插入計(jì)算法對(duì)全頻率進(jìn)行開(kāi)路校正，單頻開(kāi)路校正詳見(jiàn)“負(fù)載校正"操作說(shuō)明。

1) 移動(dòng)光標(biāo)至開(kāi)路設(shè)定域，屏幕軟鍵區(qū)顯示下列軟件。

n ON

n OFF

n 開(kāi)路全頻清

n DCR 開(kāi)路

2) 將測(cè)試夾具連接到儀器測(cè)試端。夾具開(kāi)路，沒(méi)有連接到任何被測(cè)元件。

3) 按軟鍵開(kāi)路全頻清，- 將對(duì) 41 個(gè)頻率點(diǎn)的開(kāi)路導(dǎo)納（電容和電感）進(jìn)行測(cè)量。開(kāi)路全頻校正大約需要 75 秒的時(shí)間。 在開(kāi)路全頻校正過(guò)程中，顯示下面軟鍵。

n 放棄

該軟鍵可中止當(dāng)前的開(kāi)路校正測(cè)試操作。保留原來(lái)的開(kāi)路校正數(shù)據(jù)不變。

4) 按軟鍵 DCR 開(kāi)路，- 將進(jìn)行直流電阻功能下開(kāi)路電阻的測(cè)量。

5) 按軟鍵 ON, 使開(kāi)路校正有效，- 將在以后的測(cè)試過(guò)程中進(jìn)行開(kāi)路校正計(jì)算。如果頻率 1，頻率 2 和頻率 3 設(shè)置為OFF,  開(kāi)路校正計(jì)算采用插入法所計(jì)算出的當(dāng)前頻率的開(kāi)路校正數(shù)據(jù)。如果頻率 1，頻率 2 和頻率 3 設(shè)置為 ON, 同時(shí)當(dāng)前測(cè)試頻率等于頻率 1，頻率 2 或者頻率 3， 則頻率 1，頻率 2 或頻率 3 的開(kāi)路校正數(shù)據(jù)將被用于開(kāi)路校正的計(jì)算。

6) 按軟鍵 OFF，關(guān)閉開(kāi)路校正功能。以后的測(cè)量過(guò)程中將不再進(jìn)行開(kāi)路校正的計(jì)算。

自動(dòng)抗干擾精密介損電橋是一款專為實(shí)驗(yàn)室研制的高精度高壓電橋，突破了傳統(tǒng)的電橋測(cè)量方式，采用變頻電源技術(shù)，利用單片機(jī)和現(xiàn)代化電子技術(shù)進(jìn)行自動(dòng)頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運(yùn)算；達(dá)到抗干擾能力強(qiáng)、測(cè)試速度快、精度高、全自動(dòng)數(shù)字化、操作簡(jiǎn)便；廣泛適用于電力行業(yè)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設(shè)備，特別適合相關(guān)絕緣材料的介質(zhì)損耗(tgδ)和相對(duì)介電常數(shù)（ε）的測(cè)量。符合GB5654,GB1407,GBT1693等。

技術(shù)指標(biāo)（Cx, tgδ, ε直接顯示）：

準(zhǔn)確度： Cx:  ±（讀數(shù)×0.5%+0.5pF）

tgδ: ±（讀數(shù)×0.5%+0.00005）   分辨率0.000001

ε：    ±0.5%

抗干擾指標(biāo)：  變頻抗干擾（40-70Hz），最大輸入電流5A

              內(nèi)置最高10KV測(cè)試電壓輸出，可調(diào)分辨率1V

電容量范圍： 內(nèi)施高壓： 3pF～60000pF/10kV  60pF～1μF/0.5kV

外施高壓： 3pF～1.5μF/10kV  60pF～30μF/0.5kV

外接量程擴(kuò)展器時(shí)可以測(cè)試幾千安培下高壓電器的介損值

分辨率：  最高0.001pF，4位有效數(shù)字

計(jì)算機(jī)接口： 標(biāo)準(zhǔn)RS232接口

外形尺寸：8U標(biāo)準(zhǔn)機(jī)箱               儀器重量：25kg

全自動(dòng)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

基本精度表 3(0.101V to 0.500V)